Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания
- Авторы: Сясько М.В1, Соловьев И.П1, Соломенчук П.В2
-
Учреждения:
- Санкт-Петербургский Государственный Университет
- ООО «Константа»
- Выпуск: № 7 (2023)
- Страницы: 58-60
- Раздел: Статьи
- URL: https://vietnamjournal.ru/0130-3082/article/view/649241
- DOI: https://doi.org/10.31857/S0130308223070060
- EDN: https://elibrary.ru/DWTPBN
- ID: 649241
Цитировать
Аннотация
На результаты измерений толщины неэлектропроводящего покрытия на электропроводящем немагнитном основании с применением существующего амплитудного метода вихретокового неразрушающего контроля оказывает сильное влияние удельная электропроводность основания. Для устранения этой проблемы предлагается использование вихретокового преобразователя с амплитудно-фазовой обработкой сигналов. Его градуировку проводить с использованием нескольких оснований с разной удельной электропроводностью с применением установки-имитатора толщины покрытия, количество градуировочных точек сопоставимо с разрешением толщиномера. Для вычисления толщины покрытия с учетом удельной электропроводности основания используется алгоритм определения причастности точки многоугольнику.
Ключевые слова
Об авторах
М. В Сясько
Санкт-Петербургский Государственный УниверситетСанкт-Петербург, Россия
И. П Соловьев
Санкт-Петербургский Государственный УниверситетСанкт-Петербург, Россия
П. В Соломенчук
ООО «Константа»
Email: pavel257@mail.ru
Санкт-Петербург, Россия
Список литературы
- ГОСТ Р ИСО 2360-2021 Неэлектропроводящие покрытия на немагнитных электропроводящих металлических основаниях. Измерение толщины покрытия. Амплитудный вихретоковый метод.
- Сясько В.А. Измерение толщины неферромагнитных металлических покрытий на изделиях из цветных металлов с использованием вихретокового частотного метода // Дефектоскопия. 2010. № 12. С. 39-48. EDN NQVXWJ.
- Syasko V. Optimization of structure and operation algorithms for electromagnetic plated coatings thickness meters with the use of digital technologies / In proceedings of the BINDT/45th Annual British Conference on Non-Destructive Testing 2006, Shanghai, China, 25-28 October 2008.
- Ласло М. Вычислительная геометрия и компьютерная графика на С++. М.: БИНОМ, 1997. 304 с.
- Syasko M., Solomenchuk P., Soloviev I., Ampilova N.A. Technique for Multi-Parameter Signal Processing of an Eddy-Current Probe for Measuring the Thickness of Non-Conductive Coatings on Non-Magnetic Electrically Conductive Base Metals // Appl. Sci. 2023. V. 13. P. 5144. https://doi.org/10.3390/app13085144
Дополнительные файлы
